在精密光学检测领域,计算机生成全息图(CGH)被誉为非球面与自由曲面检测的“度量衡”。但在实际应用中,工程师常面临一个核心选择:是选振幅型(Amplitude-type CGH)还是相位型(Phase-type CGH)?
这不仅是加工工艺的差异,更关乎被测件材料特性与杂光抑制能力。今天,知行光学为您深度拆解这两类 CGH 的核心差异。

振幅型CGH和位相型CGH对比
一、 选型底线:由“被测材料”决定
在选择 CGH 类型时,首要考量因素是被测表面的反射率。干涉检测的核心在于参考光与测试光的“强度匹配”,只有两束光强度相近,条纹对比度才最好。
振幅型 CGH:高反射率材料的首选
如果您的被测件是金属、单晶硅(Si)、改性碳化硅(SiC)或金属锗(Ge),这些材料具有较高的反射率。振幅型 CGH 自身的衍射效率较低(约 10%),正好能与高反射率的回光达成强度平衡,避免干涉图过亮导致像素饱和。
相位型 CGH:低反射率材料的救星
对于光学玻璃、石英、微晶玻璃等材料,其表面反射率通常极低。如果使用振幅型 CGH,回光信号会极其微弱,淹没在背景噪声中。此时必须使用相位型 CGH,利用其高达 40% 以上的衍射效率,“压榨”每一束宝贵的信号光,从而获得高对比度的清晰条纹。
二、 杂光抑制:相位型的“降噪”魔法
在 CGH 设计与检测中,0 级次(透射光)和 2 级次(高阶衍射)是极难分离的杂光。如果处理不好,它们会叠加在主测量波前上,导致面形数据出现伪影或周期性噪声。
● 振幅型: 能量分布在多个级次中,0 级和 2 级能量显著,对空间频率过滤(Spatial Filtering)的要求极高。
● 相位型: 通过精确设计的刻蚀深度,相位型 CGH 可以在物理层面上实现“能量转移”。它可以极大地抑制 0 级和 2 级次的能量,将光能高度集中在所需的 +1 级测量波前上。这种天然的选频特性,让干涉仪屏幕上的背景变得极其干净,测量数据更加可靠。
举例:以4%反射率的非球面待测镜片为例,我们来对比一下振幅型CGH和相位型CGH的条纹对比度:
已知条件:
● 干涉仪参考面 (TF) 透过率 (T_TF): 96%
● 干涉仪参考面 (TF) 反射率 (R_TF): 4% (作为参考光 Ir)
● 被测零件表面反射率 (Rs): 4% (光学玻璃)
● 对比度公式: V = [2 * sqrt(Ir * It)] / (Ir + It)
1. 振幅型 CGH:信号的“极限挑战” 光线从干涉仪射出,经过参考面 (TF) 透过,往返经过 CGH,最后折返回干涉仪:
● 参考光强度 Ir: 4% = 0.04
● 测量光强度 It: It = T_TF * 衍射效率_in * Rs * 衍射效率_out * T_TF 其中衍射效率为 10%: It = 0.96 * 0.10 * 0.04 * 0.10 * 0.96 = 0.00037
● 条纹对比度 V_amp: V = [2 * sqrt(0.04 * 0.00037)] / (0.04 + 0.00037) = 0.189
2. 相位型 CGH:能量的“黄金比例”
● 参考光强度 Ir: 0.04
● 测量光强度 It: 其中相位型衍射效率为 40%: It = 0.96 * 0.40 * 0.04 * 0.40 * 0.96 = 0.00589
● 条纹对比度 V_phase: V = [2 * sqrt(0.04 * 0.00589)] / (0.04 + 0.00589) = 0.668
● 下图给出了仿真生成的对比度V=0.189和对比度V=0.668的差异对比

不同对比度的干涉条纹
三、 加工工艺路线全解析
两者的加工起点相同,但在“成形”阶段分道扬镳。
1. 振幅型 CGH:金属膜的“减法”艺术
● 工艺: 在石英基底上溅射铬(Cr)膜,通过激光或电子束直写图案,再进行金属湿法刻蚀。
● 结果: 形成“透光”与“不透光”相间的图案。其精度取决于刻划设备的位置精度(知行光学可达3sigma <20nm)。
2. 相位型 CGH:石英基底的“雕刻”工艺
● 工艺: 在振幅型的基础上,增加一道关键工序——离子束刻蚀(IBE)或反应离子刻蚀(RIE)。
● 深度控制: 刻蚀深度必须严格匹配检测波长。对于 633nm的使用波长,刻蚀深度通常精确控制在纳米级,以确保相位差恰好实现光能的最优分布及杂光抑制。

CGH加工流程图
四、 知行光学的特色方案:混合加工工艺
在现场装调中,行业内有一个公认的痛点:全相位型 CGH 虽然能量高,但其对准区域是反射使用,反射率较低会导致条纹对比度很低,尤其是对准级次为3级衍射光的时候,现场调试异常困难。
为此,知行光学(Ningbo Zhixing Optical)开发了独有的工艺:
核心技术:对准区振幅 + 主区域相位
● 主测量区域(相位型): 针对光学玻璃、微晶等低反射率材料,提供高效率、低杂光的测量波前,确保测试区域的高对比度。
● 对准标记区(振幅型): 特意保留金属铬膜结构,提升对准区域条纹对比度,让工程师在装调光路时,能瞬间捕捉光点,大幅提升工作效率。
五、 总结:如何选型?
|
需求场景 |
推荐 CGH 类型 |
核心理由 |
|
被测件为金属/硅/锗/SiC |
振幅型 |
强度匹配,性价比高 |
|
被测件为玻璃/石英/微晶 |
相位型(知行混合型) |
信号强,条纹对比度高 |
|
杂光干扰严重/对准困难 |
知行混合型 |
抑制 0/2 级杂光,且对准极快 |
知行合一,光学无界。 宁波市知行光学科技有限公司专注于半导体与商业航天领域,提供从跨波段测量到多参数同步标定的全套全息方案。
服务热线
微信客服