日前，第二十一届全国光学测试学术交流会于2026年5月17日至5月20日在历史文化名城西安隆重举行。作为国内光学测试领域最具权威性和影响力的学术盛会之一，本次大会汇聚了来自全国顶尖科研院所、高等院校以及前沿科技企业的专家学者，共同探讨光学测试技术的最新突破与未来趋势。

      宁波知行光学科技有限公司（以下简称“知行光学”）创始人国成立博士、技术总监刘泉博士应邀出席此次盛会。两位博士领衔的“高输出、跨学科”专家团队，在大会上全方位展示了知行光学在计算全息（CGH）领域的硬核实力与最新成果。

      会议期间，举行了新一届光学测试专业委员会的换届选举活动。知行光学创始人国成立博士作为光学测试专委会委员，应邀出席并全程参与了换届选举工作。在大分会场研讨中，知行光学技术总监刘泉博士作为专题3的活动主持人，随后，知行光学创始人国成立博士作了题为《从纳米级补偿到系统级评价：计算全息（CGH）在超精密光学检测中的全链路应用》的精彩专题报告。报告深入浅出地阐述了在当前硬科技产业升级的背景下，超精密光学面形检测面临的极端挑战，并系统性地提出了知行光学的全链路应对方案。国成立博士的报告引发了现场学术界与工业界代表的强烈共鸣。

      值得关注的是，本次大会上，来自半导体制造与商业航天等前沿工业领域的代表，对知行光学的CGH检测方案展现出了极其浓厚的合作兴趣。随着国内半导体光刻、商业航天载荷等行业的高速发展，非球面及复杂自由曲面元件的量产需求迎来爆发，而传统检测手段往往在精度、成本与效率上难以兼顾。知行光学所展现的高效、闭环检测能力，正切中当前工业界打破“检测黑盒”、实现国产替代的迫切痛点。

      作为目前国内唯一一家能够提供从光学设计、全息图加工，到高稳定性机械结构设计以及定制化算法支持的民营企业，知行光学在此次大会上再次巩固了其作为“全栈式CGH综合解决方案提供商”的行业地位。

      知行光学始终坚信“知行合一”的理念。未来，公司将继续扎根硬科技赛道，坚持“以工业界实际需求推动技术革新”，通过光、机、软、算的深度集成与灵活的定制化服务，实现检测成本与评估效率的持续迭代。知行光学期待与全球顶尖的科技企业及科研院所紧密协同，共同定义并突破下一代精密光学制造的精度边界。